W. Jüptner
BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik
3 Beiträge
A10 · Vortrag · 109. Tagung (2008)
Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme
P16 · Poster · 109. Tagung (2008)
Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera
B30 · Vortrag · 107. Tagung (2006)