M. Schulte

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik

3 papers

A10 · Talk · 109. Conference (2008)

Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme

W. Li, T. Bothe, M. Schulte, C. v. Kopylow, N. Köpp, W. Jüptner

A23 · Talk · 109. Conference (2008)

Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich

C. v. Kopylow, T. Bothe, M. Schulte, W. Li, N. Köpp

P16 · Poster · 109. Conference (2008)

Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera

T. Bothe, M. Schulte, W. Li, C. v. Kopylow, W. Jüptner