M. Stavridis

Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin

13 Beiträge

P11 · Poster · 127. Tagung (2026)

Validation of the virtual experiment of the tilted-wave interferometer

I. Fortmeier, M. Stavridis, F. Hughes, M. Marschall
A33 · Vortrag · 121. Tagung (2020)

Hybridmethode zur Oberflächenrekonstruktion von optischen Asphären und Freiformen: Maschinelles Lernen basierend auf dem Tilted-Wave Interferometer

L. Hoffmann, M. Stavridis, I. Fortmeier, M. Schulz, C. Elster
B25 · Vortrag · 121. Tagung (2020)

SimOptDevice – Ein Werkzeug für virtuelle Experimente in der Optik

M. Stavridis, I. Fortmeier, M. Schulz, C. Elster
B41 · Vortrag · 121. Tagung (2020)

Simulation einer hochgenauen optischen Formmessung an Freiformoptiken mit Größen bis zu 1,5 Metern

J. Spichtinger, M. Stavridis, A. Straub, C. Elster, M. Schulz, G. Ehret
A7 · Vortrag · 120. Tagung (2019)

Untersuchung der Einflussfaktoren auf die hochgenaue Messung der Modulationstransferfunktion von Objektiven beim Einsatz von Kameradetektoren

M. Schenker, M. Schulz, M. Stavridis, P. Erichsen
P1 · Poster · 120. Tagung (2019)

Konzept für eine hochgenaue und rückgeführte optische Formmessung an großen Optiken bis 1,5 Meter

J. Spichtinger, G. Ehret, M. Schulz, M. Stavridis, C. Elster
P3 · Poster · 120. Tagung (2019)

Simulation eines beidseitig antastenden Interferometers mit Hilfe von SimOptDevice

M. Fischedick, G. Bartl, M. Stavridis
P22 · Poster · 118. Tagung (2017)

Rekonstruktionsalgorithmen zur genaueren Bestimmung der 3D-Topographie bei einem scannenden optischen Punktsensor

A. Straub, S. Laubach, G. Ehret, M. Stavridis, F. Schmähling, C. Elster
A19 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Multilateration zur Steigerung der Messgenauigkeit bei Stitchingverfahren

M. Sommerfeld, M. Stavridis
A5 · Vortrag · 114. Tagung (2013)

Unsicherheitsbeitrag der Prismenflächen bei der Brechzahlmessung

G. Blobel, M. Stavridis, A. Fricke, M. Schulz
A4 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Virtuelle und reale Experimente am neuen deflektometrischen Ebenheitsstandard

G. Ehret, M. Schulz, M. Baier, A. Fritzenreiter, W. Jöckel, M. Stavridis, C. Elster
A20 · Vortrag · 111. Tagung (2010)

Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren für die Ebenheitsmetrologie

G. Ehret, M. Schulz, M. Baier, A. Fitzenreiter, M. Stavridis, C. Elster
P28 · Poster · 109. Tagung (2008)

Absolute Topographievermessung gekrümmter optischer Oberflächen mit hoher lateraler Auflösung

A. Wiegmann, C. Elster, M. Schulz, M. Stavridis