S. Quabis

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, 38116 Braunschweig, Germany

12 Beiträge

P36 · Poster · 117. Tagung (2016)

Small-angle deflectometry with coherent and incoherent illumination

G. Ehret, S. Quabis, M. Schulz
B29 · Vortrag · 116. Tagung (2015)

Calibration of wavefront sensors without knowledge of the reference wavefront

S. Quabis, A. Wiegmann
A31 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Entwicklung von Kalibriernormalen für die Charakterisierung von Messsystemen für asphärische optische Oberflächen

G. Blobel, S. Quabis, A. Wiegmann und M. Schulz
A32 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Aktueller Stand des EMRP-Projektes zur absoluten Formmessung optischer Komponenten

M. Schulz, R. Bergmans, G. Blobel, I. Fortmeier, S. Quabis, A. Wiegmann
A3 · Vortrag · 114. Tagung (2013)

Sensorentwicklung zur deflektometrischen Topografiemessung mit sub-Millimeter Aperturen

G. Ehret, S. Quabis, M. Schulz, B. Andreas, R. D. Geckeler
P1 · Poster · 114. Tagung (2013)

Internationaler Vergleich zur Topographiemessung an einer Planfläche

M. Schulz, S. Quabis, G. Ehret
A32 · Vortrag · 107. Tagung (2006)

Polarisationsabhängige Transmission durch nanoskopische Löcher und Koaxialstrukturen

J. Müller, P. Banzer, S. Quabis, G. Leuchs
P13 · Poster · 106. Tagung (2005)

Focusing beams of polarization order number +1 onto a quantum well heterostructure

G. K. Rurimo, S. Quabis, G. Leuchs, M. Schardt, S. Malzer, G. Dohler
P51 · Poster · 106. Tagung (2005)

A pupil mask to reduce the lateral spot size of a highly focused radially polarized light field

G. K. Rurimo, S. Quabis, G. Leuchs
P54 · Poster · 106. Tagung (2005)

Polarization dependent light transmission through circular apertures of sub-wavelength dimensions

J. Müller, S. Quabis, G. Leuchs
P3 · Poster · 105. Tagung (2004)

Numerische Apertureffekte in der optischen Datenspeicherung

H. Völlm, M. Eberler, S. Quabis, G. Leuchs
P4 · Poster · 105. Tagung (2004)

Eine durchstimmbare, radial polarisierte Laserquelle zur Untersuchung von Strukturen in der Nähe einer Oberfläche

G. K. Rurimo, J. Müller, S. Quabis, G. Leuchs