M. Sandner

Bremer Institut für Angewandte Strahltechnik (BIAS), Klagenfurter Str. 2, 28359 Bremen, Germany

3 Beiträge

B29 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Reflection Characterization: 3D shape measurement of a surface using its diffuse and specular reflections

A1 · Vortrag · 114. Tagung (2013)

Simulationsstudien für Deflektometriesysteme

W. Li, M. Sandner, J. Burke

A2 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner , W. Li , Th. Bothe , J. Burke , Ch. v. Kopylow , R. B. Bergmann