Ch. v. Kopylow

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik

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A2 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner , W. Li , Th. Bothe , J. Burke , Ch. v. Kopylow , R. B. Bergmann