Ch. v. Kopylow

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik

1 paper

A2 · Talk · 112. Conference (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner , W. Li , Th. Bothe , J. Burke , Ch. v. Kopylow , R. B. Bergmann