E. Buhr

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig

12 Beiträge

P33 · Poster · 119. Tagung (2018)

Entwicklung einer hochgenauen Referenzanlage zur Messung der Modulationstransferfunktion von Objektiven

M. Schenker, M. Schulz, E. Buhr, P. Erichsen
P27 · Poster · 117. Tagung (2016)

Improved method for optical linewidth measurements

M. Wurm, D. Bergmann, E. Buhr
H1 · Hauptvortrag · 114. Tagung (2013)

Licht und Maß: Die SI-Einheiten Meter, Sekunde und Candela

E. Buhr
P43 · Poster · 113. Tagung (2012)

Traceable measurement of nanoparticle size using transmission scanning electron microscopy (TSEM)

E. Buhr, T. Klein, D. Bergmann, C.G. Frase
P25 · Poster · 112. Tagung (2011)

Asphärenmesstechnik im Rahmen des Europäischen Metrologie-Forschungsprogramms EMRP

M. Schulz, G. Ehret, E. Buhr, C. Elster
A26 · Vortrag · 111. Tagung (2010)

Aufbau eines 193 nm Mikroskops als Strukturbreitenmesssystem für Photomasken

Z. Li, F. Pilarski, D. Bergmann, B. Bodermann, E. Buhr
A15 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Nichtinvasive Bestimmung der Profilgeometrie von diffraktiven optischen Strukturen mit hohem Aspektverhältnis

G. Ehret, C. John, E. Buhr, M. Ferstl, M. Helgert, O. Sandfuchs, R. Brunner
P34 · Poster · 109. Tagung (2008)

Konstruktive Realisierung eines hochaperturigen 193nm-Mikroskops für die quantitative dimensionelle Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen

G. Ehret, F. Pilarski, D. Bergmann, B. Bodermann, E. Buhr, W. Mirandé
P4 · Poster · 108. Tagung (2007)

Rigorose Modellierung der Wechselwirkung optischer Strahlung mit stochastisch nanostrukturierten PMMA-Oberflächen

G. Ehret, E. Buhr,A. Höpe,M. Gebhardt,H.-M. Bitzer
P18 · Poster · 107. Tagung (2006)

Reduzierung der Grenzflächenreflexion von PMMA durch stochastische Strukturierung

G. Ehret, E. Buhr, M. Gebhardt, H.-M. Bitzer
P46 · Poster · 107. Tagung (2006)

Kalibrierung der Gitterkonstante ein- und zweidimensionaler Gitter mit optischer Beugung

E. Buhr, W. Michaelis, A. Diener
A31 · Vortrag · 106. Tagung (2005)

Application of digital image sensors in microscopy fpr traceable measurements of 2-dimensional structures: Problems and potential solutions

W. Michaelis, D. Bergmann, E. Buhr