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ISSN 1614-8436
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M. Lu
M. Lu
Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik, Technische Universität München
1 Beitrag
P29 · Poster · 118. Tagung (2017)
Modellierung von Referenzwellen zur lokalen Desensibilisierung in der Speckle-Interferometrie mittels Qualitätskriterien des Phasenbildes
L. Aulbach, M. Oberhans, M. Lu, S. Wang, A.W. Koch