C. Krause

BIAS-Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Klagenfurter Str. 5, 28359 Bremen, Germany

1 paper

B22 · Talk · 122. Conference (2021)

Statistisches Auswertungsverfahren zur Stufenhöhenmessung mittels Multi-Lambda-Scherinterferometrie

C. Krause, C. Falldorf, R. B. Bergmann