J. Heil
Leica Microsystems CMS GmbH, Wetzlar
5 Beiträge
B10 · Vortrag · 112. Tagung (2011)
Verallgemeinerte Sinusbedingung für ausgedehnte Objekte
A32 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
Computer-unterstützter Sterntest für Mikroskop-Objektive mit Auswertung der Modulationsübertragungsfunktion
B28 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
Aberrationen in der "Cat´s Eye"-Konfiguration bei hohen Aperturen
C16 · Vortrag · 110. Tagung (2009)
High NA Fizeau Phase Shifting Interferometry
A17 · Vortrag · 105. Tagung (2004)