Hochaufgelöste interferometrische Absolutmessung rotationssymmetrischer Oberflächen-Fehler

Carl Zeiss SMT AG

g.seitz@smt.zeiss.com

Abstract

Das Grundproblem interferometrischer Absolutmessverfahren ist die Eliminierung des Interferometer-Fehlers. Erreicht wird das durch Differenzbildung zweier Messungen, wobei die Prüflings-Oberfläche zwischen beiden Messungen definiert verschoben wird. Aus der Differenz-Wellenfront folgt der Differenzen-Quotient des Prüflings-Fehlers, aus dem unter Verwendung des Verschiebungs-Vektors der Oberflächen-Fehler rekonstruiert werden kann. Bekannte Rekonstruktionsverfahren basieren auf der Anpassung von Polynomen an die Differenz- Wellenfront. Ergebnis dieser Verfahren sind Beschreibungen der Prüflings-Oberfläche durch ent- sprechende Polynom-Koeffizienten, verbunden mit einem entsprechenden Verlust an Lateral-Auflösung. Vorgestellt wird hier ein Verfahren zur verlustfreien und damit pixelgenauen Rekonstruktion aller rotationssymmetrischen Fehler der Prüflings-Oberfläche.

Keywords

Messtechnik Interferometrie
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@inproceedings{dgao107-b9, title = {Hochaufgelöste interferometrische Absolutmessung rotationssymmetrischer Oberflächen-Fehler}, author = {G. Seitz}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 107. Jahrestagung}, year = {2006}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Vortrag B9} }
107. Jahrestagung der DGaO · Weingarten · 2006