Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht

Optocraft GmbH, Erlangen

j.pfund@optocraft.de

Abstract

Sowohl durch die zunehmende Verwendung von Asphären in Produkten die in hoher Stückzahl hergestellt werden als auch durch den Einsatz von einzeln nicht korrigierten Optiken bzw. Optik-Baugruppen sind in der optischen Prüftechnik Wellenfronten zu erfassen, die meist nicht mittels interferometrischer Methoden detektierbar sind. Shack-Hartmann Sensoren bieten hier eine geeignete Alternative, wenn eine reduzierte laterale Auflösung akzeptiert werden kann. Es werden Mess- und Kalibrierstrategien für Nicht-Null Tests diskutiert, sowie Beispiele für Auflicht- und Durchlichtprüfung und die dabei erzielten Genauigkeiten vorgestellt.

Manuskript noch nicht eingereicht. Der Vortragende kann unter /einreichen mit Code (P26) und der hinterlegten E-Mail-Adresse einen Upload-Link anfordern.
@inproceedings{dgao107-p26, title = {Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht}, author = {J.Pfund, M. Beyerlein, R.Dorn, J.Lamprecht}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 107. Jahrestagung}, year = {2006}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Poster P26} }
107. Jahrestagung der DGaO · Weingarten · 2006