Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht
- Optocraft GmbH
j [dot] pfund [at] optocraft [dot] de
Sowohl durch die zunehmende Verwendung von Asphären in Produkten die in hoher Stückzahl hergestellt werden als auch durch den Einsatz von einzeln nicht korrigierten Optiken bzw. Optik-Baugruppen sind in der optischen Prüftechnik Wellenfronten zu erfassen, die meist nicht mittels interferometrischer Methoden detektierbar sind. Shack-Hartmann Sensoren bieten hier eine geeignete Alternative, wenn eine reduzierte laterale Auflösung akzeptiert werden kann. Es werden Mess- und Kalibrierstrategien für Nicht-Null Tests diskutiert, sowie Beispiele für Auflicht- und Durchlichtprüfung und die dabei erzielten Genauigkeiten vorgestellt.
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@inproceedings{pfund2006p26,
author = {Pfund, Johannes and Beyerlein, Mathias and Dorn, Ralf and Lamprecht, Jürgen},
title = {{Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht}},
booktitle = {DGaO-Proceedings 2006},
series = {DGaO-Proceedings},
eventtitle = {107. Jahrestagung der DGaO},
eventdate = {2006-06-07/2006-06-10},
venue = {Weingarten},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
year = {2006},
pages = {P26},
langid = {ngerman},
url = {https://dgao-proceedings.de/paper/107-p26}
}
107. Annual Conference of the DGaO · Weingarten · 2006