Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht
Optocraft GmbH, Erlangen
Abstract
Sowohl durch die zunehmende Verwendung von Asphären in Produkten die in hoher Stückzahl hergestellt werden als auch durch den Einsatz von einzeln nicht korrigierten Optiken bzw. Optik-Baugruppen sind in der optischen Prüftechnik Wellenfronten zu erfassen, die meist nicht mittels interferometrischer Methoden detektierbar sind. Shack-Hartmann Sensoren bieten hier eine geeignete Alternative, wenn eine reduzierte laterale Auflösung akzeptiert werden kann. Es werden Mess- und Kalibrierstrategien für Nicht-Null Tests diskutiert, sowie Beispiele für Auflicht- und Durchlichtprüfung und die dabei erzielten Genauigkeiten vorgestellt.
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P26) und der hinterlegten E-Mail-Adresse einen Upload-Link anfordern.
@inproceedings{dgao107-p26,
title = {Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht},
author = {J.Pfund, M. Beyerlein, R.Dorn, J.Lamprecht},
booktitle = {DGaO-Proceedings, 107. Jahrestagung},
year = {2006},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
issn = {1614-8436},
note = {Poster P26}
}
107. Jahrestagung der DGaO · Weingarten · 2006