Messtechnische Charakterisierung von orts- und multispektral auflösenden Filter-On-Chip CMOS-Sensorsystemen

Für die echtzeitfähige Spektralbildverarbeitung existieren orts- und multispektral auflösende Filter-On-Chip (FOC) CMOS-Sensorsysteme. Diese Sensorsysteme zeichnen sich dadurch aus, dass pixelzugeordnete Filtermatrizen sich über die gesamte CMOS-Sensorfläche in x- und y-Richtung wiederholen. Systembedingt weisen diese Sensorsysteme ein erhöhtes spektrales und pixelarchitekturabhängiges Übersprechen sowie spezifische Winkel- und Temperaturabhängigkeiten im Vergleich zu konventionellen CMOS-Sensorsystemen auf. Um die Vergleichbarkeit und Reproduzierbarkeit der Messwerte dieser Sensorsysteme sicherzustellen werden Messanordnungen, Methoden und Algorithmen für die messtechnische Charakterisierung des spektralen und pixelarchitekturabhängigen Übersprechens sowie der Winkel- und Temperaturabhängigkeiten entwickelt und angewendet. Mit Hilfe der entwickelten Messanordnungen, Methoden und Algorithmen sollen orts- und multispektral auflösende FOC CMOS-Sensorsysteme in ihren spektralen Bildaufnahmekanälen vollständig beschrieben und modelliert werden können, um die technischen Grenzen für damit mögliche industrielle und biomedizinische Anwendungen zu erweitern.