Eine neue Methode zur Lösung des Höhenproblems in der Deflektometrie

Phasenmessende Deflektometrie (PMD) ist ein etabliertes Messverfahren zur Bestimmung der Topographie spiegelnder Freiformflächen. Dabei wird ein bekanntes sinusförmiges Muster auf einem kalibrierten Bildschirm angezeigt. Dieses wird von der Objektoberfläche reflektiert und von einer kalibrierten Kamera aufgenommen. Die lokale Neigung der Oberfläche wird durch Strahlverfolgung ausgewertet. Da jedoch in jedem Kamerapixel nur Information über den Ort des beobachteten Schirmpunkts, nicht aber über dessen Abstrahlrichtung vorliegt, kann die Neigung ohne eine bekannte Höhe nicht eindeutig bestimmt werden. Um diese als „Höhenproblem“ der PMD bekannte Schwierigkeit zu überwinden, werden häufig mehrere Kameras mit überlappenden Bildfeldern verwendet. Dies ist jedoch apparativ aufwendig und nimmt einen großen Bauraum in Anspruch. Auch andere Lösungen wie z.B. die mehrfache Messung bei verschobenen Schirmpositionen oder die Verwendung zusätzlicher Messeinrichtungen zur Bestimmung der Objektlage wirken sich aufgrund der längeren Messzeit und des größeren Kalibrieraufwands nachteilig auf die Performance aus. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, welches obige Nachteile vermeidet.