Untersuchung deformierter optischer Mikrokavitäten anhand des abgestrahlten Fernfelds.

Optische Mikrokavitäten haben sich in den vergangenen Jahren zu einem spannenden Forschungsgebiet mit herausragendem Anwendungspotential entwickelt. Dieses beruht auf der Möglichkeit das Licht über einen längeren Zeitraum in einem kleinen Volumen einzuschließen. Die elektromagnetische Welle wird dabei über Totalreflektion am äußeren Rand in der Kavität gefangen, so dass sich charakteristische Feldverteilungen (Moden) in dem Resonator ausbilden. Diese Moden, welche im äußersten Rand der Kavität leben, nennt man Whispering Gallery Modes und sind aktuell Untersuchungsgegenstand in der Quantenelektrodynamik, Photonik, Biosensorik und in der nichtlinearen Optik. Bisher erfolgt die Charakterisierung dieser Whispering Gallery Moden über gezielte Auskopplung des Nahfelds, welches sich anhand der Modenstruktur in und um den Resonator ausbildet. Hier wird ein alternativer Ansatz untersucht. Ziel ist es, die Verluststrahlung des Resonators zu nutzen, um eine Charakterisierung durchzuführen. Dazu werden Whispering Gallery Modes in deformierten Mikrokavitäten angeregt und das abgestrahlte Fernfeld anhand von Intensität und Lebenszeit analysiert.