Ellipsometrische Charakterisierung von Polydopamin für funktionelle technische Schichten
* Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, D-12203 Berlin
** Technische Hochschule Aschaffenburg, D-63743 Aschaffenburg
*** INAF-Osservatorio Astronomico di Brera, I-23807 Merate, Italien
**** Politecnico di Milano, I-20131 Milano, Italien
Abstract
Obwohl das organische Molekül Dopamin (3,4-Dihydroxyphenethylamin) allgemein eher als „Glückshormon“ bekannt ist, sind dünne Schichten aus Polydopamin heute zunehmend auch für innovative technische Anwendungen von Interesse. Ein Beispiel sind reflexionsverstärkende Beschichtungen für astronomische Röntgenspiegel. Bei der Herstellung durch eine Tauchbeschichtung wachsen die selbstorganisierenden Polydopamin-Schichten in Einzel- oder Mehrfach-Moleküllagen mit reproduzierbaren Dicken von wenigen Nanometern auf. Mit der Methode der spektroskopischen Ellipsometrie wurde die dielektrische Funktion von Polydopamin vom ultravioletten bis zum nahen infraroten Spektralbereich zunächst bei Modellschichten ausreichender Dicke vermessen. Über ein optisches Modell wurden diese Daten dann zur Bestimmung der Schichtdicken deutlich dünnerer Polydopamin-Schichten verwendet. Das Ergebnis dieser Studie ermöglicht ein besseres Verständnis des Zusammenhangs von Schichtdicken und Schichteigenschaften in Abhängigkeit von den gewählten Prozessparametern. Darüber hinaus wird ein Ausblick auf potentielle weitere technische Anwendungen des interessanten bionischen Materials Polydopamin gegeben.