K. Hehl

Innovent e.V. Technologieentwicklung Jena

3 Beiträge

P18 · Poster · 109. Tagung (2008)

Besonderheiten bei der Reflexionsgradmessung zur Schichtcharakterisierung auf Floatglas

K. Kröger, A. Hertzsch, M. Hans, K. Hehl
P25 · Poster · 108. Tagung (2007)

Schichtdickenbestimmung an dünnen, optisch transparenten Schichten mit geringer Brechzahldifferenz zwischen Schicht und Substrat

A. Hertzsch, K. Kröger, K. Hehl
B27 · Vortrag · 107. Tagung (2006)

Deflektometrie von Oberflächen mit einem Zweistrahlverfahren

A. Hertzsch, K. Hehl, M. Großmann