K. Hehl

Innovent e.V. Technologieentwicklung Jena

3 papers

P18 · Poster · 109. Conference (2008)

Besonderheiten bei der Reflexionsgradmessung zur Schichtcharakterisierung auf Floatglas

K. Kröger, A. Hertzsch, M. Hans, K. Hehl

P25 · Poster · 108. Conference (2007)

Schichtdickenbestimmung an dünnen, optisch transparenten Schichten mit geringer Brechzahldifferenz zwischen Schicht und Substrat

A. Hertzsch, K. Kröger, K. Hehl

B27 · Talk · 107. Conference (2006)

Deflektometrie von Oberflächen mit einem Zweistrahlverfahren

A. Hertzsch, K. Hehl, M. Großmann