W. Li

Vereinigte Elektronik-Werkstätten GmbH (VEW), Edisonstr. 19, 28357 Bremen

8 papers

B27 · Talk · 115. Conference (2014)

Simulation of deformation measurements with deflectometry

W. Li, J. Burke
A1 · Talk · 114. Conference (2013)

Simulationsstudien für Deflektometriesysteme

W. Li, M. Sandner, J. Burke
A19 · Talk · 114. Conference (2013)

Kamera-Sichtstrahlkalibrierung für kleine Bildfelder

T. Reh, W. Li, A. Gesierich, R. B. Bergmann
A23 · Talk · 113. Conference (2012)

Highly accurate surface reconstruction for deflectometry

W. Li, J. Burke
A2 · Talk · 112. Conference (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner , W. Li , Th. Bothe , J. Burke , Ch. v. Kopylow , R. B. Bergmann
A10 · Talk · 109. Conference (2008)

Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme

W. Li, T. Bothe, M. Schulte, C. v. Kopylow, N. Köpp, W. Jüptner
A23 · Talk · 109. Conference (2008)

Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich

C. v. Kopylow, T. Bothe, M. Schulte, W. Li, N. Köpp
P16 · Poster · 109. Conference (2008)

Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera

T. Bothe, M. Schulte, W. Li, C. v. Kopylow, W. Jüptner