W. Li
Vereinigte Elektronik-Werkstätten GmbH (VEW), Edisonstr. 19, 28357 Bremen
8 papers
B27 · Talk · 115. Conference (2014)
Simulation of deformation measurements with deflectometry
A1 · Talk · 114. Conference (2013)
Simulationsstudien für Deflektometriesysteme
A19 · Talk · 114. Conference (2013)
Kamera-Sichtstrahlkalibrierung für kleine Bildfelder
A23 · Talk · 113. Conference (2012)
Highly accurate surface reconstruction for deflectometry
A2 · Talk · 112. Conference (2011)
Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler
A10 · Talk · 109. Conference (2008)
Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme
A23 · Talk · 109. Conference (2008)
Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich
P16 · Poster · 109. Conference (2008)