M. Trost

Fraunhofer Institute of Applied Optics and Precision Engineering, Albert-Einstein-Str. 7, 07745 Jena, Germany

12 papers

A31 · Talk · 123. Conference (2022)

Bridging the gap between figure and finish errors

Y. Sekman , M. Trost, R. Brüning
B28 · Talk · 122. Conference (2021)

Schwarzes und weißes Quarzglas: Hochabsorbierendes und diffus reflektierendes SiO2 durch Sol-Gel Prozess und ‚Mottenaugen‘-Strukturen

R. Brunner , M. Kraus, K. Weishaupt , Z. Diao , J. Hirte, J. Spatz, T. Harzendorf, M. Trost, A.-S. Munser, S. Schröder, M. Bär
B42 · Talk · 121. Conference (2020)

General surface definition for describing figure and finish errors

Y. Sekman , M. Trost
A25 · Talk · 118. Conference (2017)

Streulichtanalyse hochqualitativer Optikkomponenten

T. Herffurth, A. v. Finck, M. Trost, S. Schröder
P37 · Poster · 118. Conference (2017)

Streulichtbasierte Detektion pathogener Keime

A.-S. Munser , M. Trost, S. Schröder, A. Tünnermann
B19 · Talk · 116. Conference (2015)

Multi-wavelength table top light scattering metrology

A. von Finck, M. Trost, S. Schröder, A. Duparré
B18 · Talk · 115. Conference (2014)

Streulichtmessung optischer Komponenten im infraroten Spektralbereich

M. Hauptvogel, S. Schröder, L. Mejnertsen, M. Trost, A. Duparré
P6 · Poster · 115. Conference (2014)

Streulichtbasierte Detektion von Subsurface Damage in geschliffenen und polierten Glasoberflächen

M. Trost, M. Hauptvogel, S. Schröder, T. Herffurth, A. Duparré
A30 · Talk · 113. Conference (2012)

Optical scattering - from simple models to complex applications

S. Schröder, M. Trost, T. Herffurth, A. Duparré, J. Wang, H. Schreiber
P24 · Poster · 111. Conference (2010)

Bewertung der Poliergüte schwer zugänglicher Oberflächen durch Streulichtmethoden

S. Schröder, M. Trost, T. Herffurth, A. Duparré
P65 · Poster · 110. Conference (2009)

EUV scattering measurements of optical components

T. Herffurth , M. Trost, S. Schröder, A. Duparré, A. Tünnermann
P29 · Poster · 109. Conference (2008)

Streulicht- und Reflexionsmesstechnik für 13,5 nm

S. Schröder , T. Herffurth, M. Trost, A. Duparré, A. Tünnermann