M. Schulz
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, 38116 Braunschweig
40 Beiträge
B20 · Vortrag · 123. Tagung (2022)
Influence of camera exposure time on MTF measurements in not ideally linear systems
P4 · Poster · 123. Tagung (2022)
Rückgeführte Kalibriernormale für Asphärenmessgeräte
B8 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Kalibrierung von Wellenfrontsystemen mit ebenen und sphärischen Wellenfronten
A33 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Hybridmethode zur Oberflächenrekonstruktion von optischen Asphären und Freiformen: Maschinelles Lernen basierend auf dem Tilted-Wave Interferometer
B25 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
SimOptDevice – Ein Werkzeug für virtuelle Experimente in der Optik
B41 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Simulation einer hochgenauen optischen Formmessung an Freiformoptiken mit Größen bis zu 1,5 Metern
P6 · Poster · 121. Tagung (2020)
Kalibrierung von Wellenfrontsensoren mit ebenen und sphärischen Wellenfronten
A7 · Vortrag · 120. Tagung (2019)
Untersuchung der Einflussfaktoren auf die hochgenaue Messung der Modulationstransferfunktion von Objektiven beim Einsatz von Kameradetektoren
B11 · Vortrag · 120. Tagung (2019)
Vergleich unterschiedlicher Kleinwinkel-Deflektometrie-Verfahren zur Ebenheitsmessung
P1 · Poster · 120. Tagung (2019)
Konzept für eine hochgenaue und rückgeführte optische Formmessung an großen Optiken bis 1,5 Meter
P33 · Poster · 119. Tagung (2018)
Entwicklung einer hochgenauen Referenzanlage zur Messung der Modulationstransferfunktion von Objektiven
P24 · Poster · 118. Tagung (2017)
Verbesserte deflektometrische Ebenheitsmetrologie an großen Optiken durch den Einsatz von elektronischen Neigungssensoren
P28 · Poster · 118. Tagung (2017)
Erweiterte Anwendungen bei der Radiusmessung optischer Komponenten
P36 · Poster · 117. Tagung (2016)
Small-angle deflectometry with coherent and incoherent illumination
A11 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
Wave front characterization of Gaussian beams using shear interferometry and a weighted reconstructor
A31 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
Entwicklung von Kalibriernormalen für die Charakterisierung von Messsystemen für asphärische optische Oberflächen
A32 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
Aktueller Stand des EMRP-Projektes zur absoluten Formmessung optischer Komponenten
A3 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
Sensorentwicklung zur deflektometrischen Topografiemessung mit sub-Millimeter Aperturen
A5 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
Unsicherheitsbeitrag der Prismenflächen bei der Brechzahlmessung
P1 · Poster · 114. Tagung (2013)
Internationaler Vergleich zur Topographiemessung an einer Planfläche
P22 · Poster · 114. Tagung (2013)
Absolute Entfernungsmessung über mehrere Millimeter ohne bewegliche Elemente basierend auf der Weißlichtinterferometrie
B11 · Vortrag · 113. Tagung (2012)
International Comparison of Refractive Index Measurements
P27 · Poster · 113. Tagung (2012)
Difference deflectometry with coupling mirrors for flatness measurements of rough or scattering surfaces
P31 · Poster · 113. Tagung (2012)
Uncertainty estimation in a non-null metrology system
A36 · Vortrag · 112. Tagung (2011)
Nichtäquidistante Sensoranordnung zur absoluten Profilvermessung
A4 · Vortrag · 112. Tagung (2011)
Virtuelle und reale Experimente am neuen deflektometrischen Ebenheitsstandard
P25 · Poster · 112. Tagung (2011)
Asphärenmesstechnik im Rahmen des Europäischen Metrologie-Forschungsprogramms EMRP
P32 · Poster · 112. Tagung (2011)
Hochgenaue polarimetrische Kalibrierung von Quarz-Kontrollplatten
A20 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren für die Ebenheitsmetrologie
P16 · Poster · 111. Tagung (2010)
Unsicherheitsanalyse von Keilwinkelmessungen mit einem wellenlängenschiebenden Interferometer
P22 · Poster · 110. Tagung (2009)
A new optical flatness reference measurement system
A6 · Vortrag · 109. Tagung (2008)
Direkte Kalibrierung flächenmessender Interferometer mit dem TMS-Verfahren
P28 · Poster · 109. Tagung (2008)
Absolute Topographievermessung gekrümmter optischer Oberflächen mit hoher lateraler Auflösung
A4 · Vortrag · 108. Tagung (2007)
Weiterentwicklung des TMS-Verfahrens zur hochauflösenden und hochgenauen optischen Formmessung
P34 · Poster · 108. Tagung (2007)
Unsicherheitsanalyse für das TMS Verfahren: Einfluss hoher Ortsfrequenzen des Prüflings
B25 · Vortrag · 107. Tagung (2006)
Messung gekrümmter Oberflächen mit einem absoluten Vielfachsensorsystem
P10 · Poster · 106. Tagung (2005)
Traceable Multiple Sensor System for High Accuracy Form Measurement
A12 · Vortrag · 105. Tagung (2004)
Einsatz des LACS - Verfahrens für Sphärizitätsmessungen
A14 · Vortrag · 105. Tagung (2004)
Messung ausgedehnter Wellenfronten mit einem Shack-Hartmann Sensor
H8 · Hauptvortrag · 105. Tagung (2004)