Clemens Elster
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (German National Metrology Institute)
13 papers
A33 · Talk · 121. Conference (2020)
Hybridmethode zur Oberflächenrekonstruktion von optischen Asphären und Freiformen: Maschinelles Lernen basierend auf dem Tilted-Wave Interferometer
B25 · Talk · 121. Conference (2020)
SimOptDevice – Ein Werkzeug für virtuelle Experimente in der Optik
B41 · Talk · 121. Conference (2020)
Simulation einer hochgenauen optischen Formmessung an Freiformoptiken mit Größen bis zu 1,5 Metern
P1 · Poster · 120. Conference (2019)
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Konzept für eine hochgenaue und rückgeführte optische Formmessung an großen Optiken bis 1,5 Meter
P22 · Poster · 118. Conference (2017)
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Rekonstruktionsalgorithmen zur genaueren Bestimmung der 3D-Topographie bei einem scannenden optischen Punktsensor
A4 · Talk · 112. Conference (2011)
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Virtuelle und reale Experimente am neuen deflektometrischen Ebenheitsstandard
P25 · Poster · 112. Conference (2011)
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Asphärenmesstechnik im Rahmen des Europäischen Metrologie-Forschungsprogramms EMRP
A20 · Talk · 111. Conference (2010)
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Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren für die Ebenheitsmetrologie
A6 · Talk · 109. Conference (2008)
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Direkte Kalibrierung flächenmessender Interferometer mit dem TMS-Verfahren
P28 · Poster · 109. Conference (2008)
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Absolute Topographievermessung gekrümmter optischer Oberflächen mit hoher lateraler Auflösung
A4 · Talk · 108. Conference (2007)
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Weiterentwicklung des TMS-Verfahrens zur hochauflösenden und hochgenauen optischen Formmessung
P34 · Poster · 108. Conference (2007)
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Unsicherheitsanalyse für das TMS Verfahren: Einfluss hoher Ortsfrequenzen des Prüflings
A13 · Talk · 105. Conference (2004)