S. Schröder
RWTH Aachen University TOS - Chair for Technology of Optical Systems, Steinbachstr. 15, 52074 Aachen, Germany
24 Beiträge
B28 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Schwarzes und weißes Quarzglas: Hochabsorbierendes und diffus reflektierendes SiO2 durch Sol-Gel Prozess und ‚Mottenaugen‘-Strukturen
A25 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
Streulichtanalyse hochqualitativer Optikkomponenten
P37 · Poster · 118. Tagung (2017)
Streulichtbasierte Detektion pathogener Keime
B18 · Vortrag · 116. Tagung (2015)
Compact and fast sensor systems for light scattering analysis of optical components
B19 · Vortrag · 116. Tagung (2015)
Multi-wavelength table top light scattering metrology
P7 · Poster · 116. Tagung (2015)
Combined optical sensor for simultaneously measuring roughness and 3D shape
B17 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
System zur hochsensitiven spektral- und winkelaufgelösten Streulichtmessung an optischen Komponenten
B18 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
Streulichtmessung optischer Komponenten im infraroten Spektralbereich
P6 · Poster · 115. Tagung (2014)
Streulichtbasierte Detektion von Subsurface Damage in geschliffenen und polierten Glasoberflächen
B21 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
OPO-basiertes System zur hochsensitiven winkel- und wellenlängenaufgelösten Streulichtmessung
B22 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
Matrix-Sensor-basierte Methodik zur schnellen, hochauflösenden BTDF-Messung optischer Komponenten und Systeme
A30 · Vortrag · 113. Tagung (2012)
Optical scattering - from simple models to complex applications
P10 · Poster · 113. Tagung (2012)
Defect assessment of optical surfaces using the light scatter sensor HOROS
A15 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
PSD-Analyse: Schlüssel zur funktionsgerechten Rauheitscharakterisierung optischer Oberflächen
P23 · Poster · 111. Tagung (2010)
Separation von Streulichteffekten zur zerstörungsfreien Detektion von Sub-Surface-Damage
P24 · Poster · 111. Tagung (2010)
Bewertung der Poliergüte schwer zugänglicher Oberflächen durch Streulichtmethoden
C26 · Vortrag · 110. Tagung (2009)
Nanoroughness characterization of complex surfaces by advanced light scattering techniques
P65 · Poster · 110. Tagung (2009)
EUV scattering measurements of optical components
P29 · Poster · 109. Tagung (2008)
Streulicht- und Reflexionsmesstechnik für 13,5 nm
P3 · Poster · 108. Tagung (2007)
Streulichtverfahren zur Inspektion ultra-präzisionsbearbeiteter Oberflächen
P5 · Poster · 108. Tagung (2007)
Streulichtmesstechnik für 193 nm und 13,5 nm
P6 · Poster · 108. Tagung (2007)
Volumenstreuung von synthetischem Quarzglas bei 193 nm
H4 · Hauptvortrag · 107. Tagung (2006)
Sensitive und flexible Streulichtmesstechnik für den tiefen UV- bis infraroten Spektralbereich
B4 · Vortrag · 105. Tagung (2004)