Michael Schulz
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (German National Metrology Institute)
Chair of Applied Physics, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
39 papers
B20 · Talk · 123. Conference (2022)
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Influence of camera exposure time on MTF measurements in not ideally linear systems
P4 · Poster · 123. Conference (2022)
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Rückgeführte Kalibriernormale für Asphärenmessgeräte
B8 · Talk · 122. Conference (2021)
Kalibrierung von Wellenfrontsystemen mit ebenen und sphärischen Wellenfronten
A33 · Talk · 121. Conference (2020)
Hybridmethode zur Oberflächenrekonstruktion von optischen Asphären und Freiformen: Maschinelles Lernen basierend auf dem Tilted-Wave Interferometer
B25 · Talk · 121. Conference (2020)
SimOptDevice – Ein Werkzeug für virtuelle Experimente in der Optik
B41 · Talk · 121. Conference (2020)
Simulation einer hochgenauen optischen Formmessung an Freiformoptiken mit Größen bis zu 1,5 Metern
P6 · Poster · 121. Conference (2020)
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Kalibrierung von Wellenfrontsensoren mit ebenen und sphärischen Wellenfronten
A7 · Talk · 120. Conference (2019)
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Untersuchung der Einflussfaktoren auf die hochgenaue Messung der Modulationstransferfunktion von Objektiven beim Einsatz von Kameradetektoren
B11 · Talk · 120. Conference (2019)
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Vergleich unterschiedlicher Kleinwinkel-Deflektometrie-Verfahren zur Ebenheitsmessung
P1 · Poster · 120. Conference (2019)
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Konzept für eine hochgenaue und rückgeführte optische Formmessung an großen Optiken bis 1,5 Meter
P33 · Poster · 119. Conference (2018)
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Entwicklung einer hochgenauen Referenzanlage zur Messung der Modulationstransferfunktion von Objektiven
P24 · Poster · 118. Conference (2017)
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Verbesserte deflektometrische Ebenheitsmetrologie an großen Optiken durch den Einsatz von elektronischen Neigungssensoren
P28 · Poster · 118. Conference (2017)
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Erweiterte Anwendungen bei der Radiusmessung optischer Komponenten
P36 · Poster · 117. Conference (2016)
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Small-angle deflectometry with coherent and incoherent illumination
A11 · Talk · 115. Conference (2014)
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Wave front characterization of Gaussian beams using shear interferometry and a weighted reconstructor
A32 · Talk · 115. Conference (2014)
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Aktueller Stand des EMRP-Projektes zur absoluten Formmessung optischer Komponenten
A3 · Talk · 114. Conference (2013)
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Sensorentwicklung zur deflektometrischen Topografiemessung mit sub-Millimeter Aperturen
A5 · Talk · 114. Conference (2013)
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Unsicherheitsbeitrag der Prismenflächen bei der Brechzahlmessung
P1 · Poster · 114. Conference (2013)
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Internationaler Vergleich zur Topographiemessung an einer Planfläche
P22 · Poster · 114. Conference (2013)
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Absolute Entfernungsmessung über mehrere Millimeter ohne bewegliche Elemente basierend auf der Weißlichtinterferometrie
B11 · Talk · 113. Conference (2012)
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International Comparison of Refractive Index Measurements
P27 · Poster · 113. Conference (2012)
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Difference deflectometry with coupling mirrors for flatness measurements of rough or scattering surfaces
P31 · Poster · 113. Conference (2012)
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Uncertainty estimation in a non-null metrology system
A4 · Talk · 112. Conference (2011)
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Virtuelle und reale Experimente am neuen deflektometrischen Ebenheitsstandard
A36 · Talk · 112. Conference (2011)
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Nichtäquidistante Sensoranordnung zur absoluten Profilvermessung
P25 · Poster · 112. Conference (2011)
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Asphärenmesstechnik im Rahmen des Europäischen Metrologie-Forschungsprogramms EMRP
P32 · Poster · 112. Conference (2011)
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Hochgenaue polarimetrische Kalibrierung von Quarz-Kontrollplatten
A20 · Talk · 111. Conference (2010)
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Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren für die Ebenheitsmetrologie
P16 · Poster · 111. Conference (2010)
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Unsicherheitsanalyse von Keilwinkelmessungen mit einem wellenlängenschiebenden Interferometer
P22 · Poster · 110. Conference (2009)
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A new optical flatness reference measurement system
A6 · Talk · 109. Conference (2008)
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Direkte Kalibrierung flächenmessender Interferometer mit dem TMS-Verfahren
P28 · Poster · 109. Conference (2008)
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Absolute Topographievermessung gekrümmter optischer Oberflächen mit hoher lateraler Auflösung
A4 · Talk · 108. Conference (2007)
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Weiterentwicklung des TMS-Verfahrens zur hochauflösenden und hochgenauen optischen Formmessung
P34 · Poster · 108. Conference (2007)
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Unsicherheitsanalyse für das TMS Verfahren: Einfluss hoher Ortsfrequenzen des Prüflings
B25 · Talk · 107. Conference (2006)
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Messung gekrümmter Oberflächen mit einem absoluten Vielfachsensorsystem
P10 · Poster · 106. Conference (2005)
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Traceable Multiple Sensor System for High Accuracy Form Measurement
A12 · Talk · 105. Conference (2004)
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Einsatz des LACS - Verfahrens für Sphärizitätsmessungen
A14 · Talk · 105. Conference (2004)
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Messung ausgedehnter Wellenfronten mit einem Shack-Hartmann Sensor
H8 · Keynote · 105. Conference (2004)
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