Christian Faber
Fakultät Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen, Hochschule Landshut
Hochschule Landshut
Sensorik und Bildverarbeitung, Hochschule Landshut
Institut für Optik, Information und Photonik, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Lehrstuhl für Optik, Arbeitsgruppe OSMIN, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
40 Beiträge
A2 · Vortrag · 127. Tagung (2026)
Deflectometric Measurement of Astronomical Mirrors: Comparison of Different Calibration and Evaluation Methods
S1 · Sondervortrag · 127. Tagung (2026)
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Resolution Enhancement in Digital Holography through Adaptive Speckle Illumination
H4 · Hauptvortrag · 126. Tagung (2025)
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From differentiable modelling to system optimization: The full journey using Geometric Algebra exemplarily applied to improve light sectioning systems
B1 · Vortrag · 125. Tagung (2024)
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The anycentric camera: A unifying pinhole model for ento-, hyper- and telecentric lenses using Geometric Algebra
B8 · Vortrag · 124. Tagung (2023)
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Combining simulation and optimization: Multipurpose modelling of camera-based optical metrology systems
A21 · Vortrag · 123. Tagung (2022)
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Shedding new light on ray tracing for optical metrology systems by using Geometric Algebra
A24 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Ein neuer Ansatz für den Phase-Unwrap bei der monokularen phasenmessenden Single-Shot Deflektometrie
A14 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
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Ein neuer Ansatz für den Phase-Unwrap bei der monokularen phasenmessenden Single-Shot Deflektometrie
P7 · Poster · 121. Tagung (2020)
Lokalisierte Single-Shot-Auswertung für die phasenmessende Deflektometrie mit Wavelet Transformation
A12 · Vortrag · 120. Tagung (2019)
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Inverse Streifenprojektion kombiniert mit Wavelet-Transformation als optische Inline-Inspektionslösung in der Umformtechnik
B14 · Vortrag · 120. Tagung (2019)
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Eine neue Methode zur Lösung des Höhenproblems in der Deflektometrie
B27 · Vortrag · 119. Tagung (2018)
Frequenzcodierte Deflektometrie
P1 · Poster · 119. Tagung (2018)
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On-the-Fly-Deflektometrie zur schnellen 3D-Inline-Inspektion in der Bewegung
P2 · Poster · 119. Tagung (2018)
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Optimierte Erzeugung eines inversen Streifenmusters für die Inline-3D-Inspektion in der Umformtechnik
A21 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
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Linienintegration eines Single-Shot-3D-Sensors in einer Saugerbalken-Presse
B11 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
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Das Beste aus zwei Welten: Fusion von Phasenmessender Deflektometrie und Shape from Specular Flow
B15 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
Vergleich von modellfreier und modellbasierter Kalibrierung eines Lichtschnittsensors mit allgemeiner applikationsspezifischer Beleuchtungsoptik
B2 · Vortrag · 117. Tagung (2016)
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Inline detection of defects on free formed metal pressings using a single shot inverse fringe projection approach
B6 · Vortrag · 117. Tagung (2016)
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Easy field-applicable calibration of a miniaturized light sectioning sensor with application-specific illumination optics
A2 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
Accurate Deflectometry for non-cooperative Applications
A16 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
Tomographic Triangulation
A8 · Vortrag · 113. Tagung (2012)
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Why can't we purchase a perfect single shot 3D-sensor?
A25 · Vortrag · 113. Tagung (2012)
Compact PMD measurement and PSF reconstruction for large mirrors
P28 · Poster · 113. Tagung (2012)
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Object reconstruction by deflectometry
P29 · Poster · 113. Tagung (2012)
Kill two birds with one stone - measure shape and reflectivity at the same time
A1 · Vortrag · 112. Tagung (2011)
Phase-Shift vs. Line-Shift: Two ways to do Deflectometry
A3 · Vortrag · 112. Tagung (2011)
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Deflektometrische Selbstkalibrierung für spiegelnde Objekte
A6 · Vortrag · 112. Tagung (2011)
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Full-field macroscopic measurement of specular, curved surfaces with SIM
P27 · Poster · 112. Tagung (2011)
Deflectometric Measurement of 10,000 Telescope Mirror Tiles
P28 · Poster · 112. Tagung (2011)
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Deflectometry for Ultra Precision Machining - Measuring without Rechucking
P36 · Poster · 112. Tagung (2011)
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Driving Structured-Illumination Microscopy towards the Limits of Efficiency and Accuracy
A18 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
Algorithmic Elimination of Parasitic Reflections in Deflectometry
A19 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
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UV-Deflectometry: No parasitic reflections
A22 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
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Tuning Structured Illumination Microscopy (SIM) for the Inspection of Micro Optical Components
P9 · Poster · 111. Tagung (2010)
Information efficient and accurate Structured Illumination Microscopy (SIM)
P33 · Poster · 111. Tagung (2010)
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New Holistic Self-Calibration Method for Deflectometric Sensors
A10 · Vortrag · 110. Tagung (2009)
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Can deflectometry work in presence of parasitic reflections?
A12 · Vortrag · 110. Tagung (2009)
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3D-microscopy with large depth of field
P23 · Poster · 110. Tagung (2009)
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Object tilt - a source of systematic error in transmission deflectometry
P24 · Poster · 110. Tagung (2009)
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